廣泛用于:電子、電器、連接器、五金、LED、LCD、模組、模塊、手機、塑膠、顯示器、二三極管、機箱、電鍍、插頭、電線、IC、磁鐵、線路板、馬達(dá)、電機、汽車配件、家電、通信、化工、科研、航天、模組、家具、主板、集成電路、太陽能光伏等領(lǐng)域。
快速溫度試驗箱,該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。
高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,高低溫交變濕熱試驗箱,老化試驗箱
■產(chǎn)品用途
【快速溫變試驗箱】又稱【溫度沖擊試驗箱】適用于電工、電子產(chǎn)品整機及零部件進(jìn)行耐寒試驗、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗。特別適用于進(jìn)行電工、電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)試驗。該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫速變的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。快速溫度變化試驗箱/ 主要技術(shù)指標(biāo)
■ 快速溫度變化試驗箱/性能指標(biāo)
◆溫度范圍:-70℃、-40℃、-20℃~+100(150)℃
◆溫度波動度:±0.5℃
◆溫度偏差:≤2℃
◆全程平均升降溫速率:3~15℃/min
◆線性升降溫速率:3~5℃/min(-50℃~+100℃) 控制器: 進(jìn)口LED數(shù)顯(P、I、D +S、S、R.)微電腦
■集成控制器
◆循環(huán)系統(tǒng): 耐溫低噪音空調(diào)型電機.多葉式離心風(fēng)輪
◆溫度轉(zhuǎn)換時間: 從低溫區(qū)到高溫區(qū)或從高溫區(qū)到低溫區(qū)≤15S
◆設(shè)定精度:溫度±0.1℃,指示精度:溫度±0.1℃,解析度:±0.1℃
◆制冷系統(tǒng): 進(jìn)口德國谷輪半封閉水冷式壓縮機組/原裝法國“泰康”/全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷方式
◆溫度回復(fù)時間:≤5min(與溫度恢復(fù)條件有關(guān),既冷卻水溫、溫差、恒溫時間、樣品重量有關(guān))
◆溫度沖擊方法: 垂直兩箱法
■快速溫度變化試驗箱/ 安全保護(hù)措施
◆電源超載、短路保護(hù)
◆接地保護(hù)
◆超溫保護(hù)
◆壓縮過壓、過載保護(hù)
◆為保護(hù)設(shè)備,所有報警均會自動切斷電源,并發(fā)出聲訊提示。
■快速溫度變化試驗箱/ 使用現(xiàn)場的條件
◆溫度:15℃~35℃
◆相對濕度:不大于85%RH
◆周圍無強烈氣流,當(dāng)周圍空氣需要強制流時,氣流不應(yīng)直接吹到箱體上
◆試驗箱應(yīng)放置平穩(wěn),保持水平
◆試驗箱的四周應(yīng)留有一定的距離,方便維修操作
◆周圍無強烈振動、無強烈電磁場影響
◆周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
◆無陽光直接照射或其它熱源直接輻射
◆安裝場地通風(fēng)良好
◆良好接地
■快速溫度變化試驗箱/ 結(jié)構(gòu)特征
◆該設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。
◆箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑(用戶可選不銹鋼板),內(nèi)膽采用不銹鋼板,
◆該設(shè)備主要溫度控制儀采用智能數(shù)顯溫濕度控制儀,人性化設(shè)計的操作方法,易學(xué)易用,并且不同功能檔次的儀表操作相互兼容。
◆輸入采用數(shù)字校正系統(tǒng),內(nèi)置常用熱電偶和熱電阻非線性校正表格,測量精確穩(wěn)定。制冷系統(tǒng)采用全封閉進(jìn)口壓縮機組,機械式單級制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng),全自動控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。
◆箱門中間設(shè)大面積觀察窗,并配有觀察燈,使用戶可以清晰地看到試樣的試驗情況。
◆保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細(xì)玻璃棉,具有強度高,保溫性有好等特點。
◆外型整體美觀大方。
◆加熱采用不銹鋼翅片加熱管。
◆具備位式調(diào)節(jié)和AI人工智能調(diào)節(jié)功能,0.2級精度,多種報警模式。升溫、降溫、加濕、去濕獨立,*的BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式。
■ 快速溫度變化試驗箱/符合標(biāo)準(zhǔn)
◆GB/T2423.2-1989 IEC6
◆GJB150.3-1986高溫試驗
◆GJB150.4-1986低溫試驗
◆GB/T10589-1989 低溫試驗箱技術(shù)條件
◆GB/T2423.1-2001 IEC6
◆GJB1032-90環(huán)境應(yīng)力篩選方法